語言選擇: 中文版 ∷  英文版

材料表征設備

  • 掃描開爾文探針
  • 掃描開爾文探針
  • 掃描開爾文探針
  • 掃描開爾文探針
  • 掃描開爾文探針
  • 掃描開爾文探針
  • 掃描開爾文探針
掃描開爾文探針掃描開爾文探針掃描開爾文探針掃描開爾文探針掃描開爾文探針掃描開爾文探針掃描開爾文探針

掃描開爾文探針

掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势,表面功函。由材料表面最頂部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。

主要特點:
● 功函分辨率< 3meV
● 扫描面积:5mm to 300mm(四种型号,每种型号扫描面积不同)
● 扫描分辨率:317.5nm
● 自动高度调节
應用領域:
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀
升級附件:
● 大气光子发射系统
● 表面光电压(QTH or LED)
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱
友情链接:乐鱼体育官方APP  竞技宝app官网下载  乐鱼体育官方APP  环球体育平台网址  火狐体育手机版  多宝体育